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NCT首席技術(shù)官兼董事佐佐木公平先生2010-2024年間關(guān)于氧化鎵的研究心得——β-Ga?O?的前景:現(xiàn)在和未來

個(gè)人介紹

佐佐木公平1981 年出生于日本仙臺(tái)。2006 年,獲得長(zhǎng)岡技術(shù)大學(xué)工程碩士學(xué)位,并加入田村制作所,在期間進(jìn)行了利用臭氧-MBE 和離子注入摻雜技術(shù)開發(fā)了 Ga2O3 同質(zhì)外延生長(zhǎng)技術(shù)。并且對(duì)Ga2O3溝槽 MOSSBD、JBS 二極管和溝槽 MOSFET進(jìn)行了開發(fā)工作。2016 年獲得京都大學(xué)工程學(xué)博士學(xué)位。2018 年,加入NCT,利用鹵化物氣相外延生長(zhǎng)的低killer缺陷密度Ga2O3同質(zhì)外延薄膜,開發(fā)出 100 安培級(jí)的大尺寸Ga2O3 SBD?,F(xiàn)擔(dān)任NCT的首席技術(shù)官兼董事。

本篇綜述介紹了氧化鎵作為功率器件材料的研究進(jìn)展,涵蓋了從塊狀晶體生長(zhǎng)到外延生長(zhǎng)的發(fā)展、缺陷評(píng)估、器件工藝和開發(fā),以上這些都是基于作者的研究經(jīng)驗(yàn)。在過去十年左右的時(shí)間里,外延片的尺寸已經(jīng)擴(kuò)大到 4-6 英寸,并且也驗(yàn)證了肖特基勢(shì)壘二極管和場(chǎng)效應(yīng)晶體管能夠進(jìn)行安培級(jí)操作且擊穿電壓達(dá)到幾kV。另一方面,氧化鎵功率器件的實(shí)際應(yīng)用也面臨著挑戰(zhàn),如外延片的成本、killer缺陷、外延層的純度等。本文全面總結(jié)了氧化鎵發(fā)展的歷史,不僅包括論文,還涵蓋了專利和會(huì)議發(fā)表,并對(duì)這種材料的持續(xù)發(fā)展前景提出了作者的個(gè)人看法。

 

DOI :

https://doi.org/10.35848/1882-0786/ad6b73

 

本文轉(zhuǎn)載自《亞洲氧化鎵聯(lián)盟》公眾號(hào)